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恩云飞
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恩云飞
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著者
恩云飞
(6)
何小琦
(3)
(美)allyson l. hartzell,(美)mark g. da silva,(瑞士)herbert r. shea著
(1)
(美)h. 阿德比利(haleh ardebili), (美)迈克尔·派克(michael g. pecht)著
(1)
(美)steven h. voldman著
(1)
何小琦,恩云飞,周斌编著
(1)
何小琦,恩云飞,宋芳芳编著
(1)
周斌
(1)
哈策尔
(1)
孔学东
(1)
孔学东, 恩云飞, 尧彬等翻译
(1)
宋芳芳
(1)
尧彬
(1)
席尔瓦
(1)
恩云飞,谢少锋,何小琦编著
(1)
来萍
(1)
来萍,恩云飞,肖庆中等译
(1)
沃尔德曼
(1)
派克
(1)
肖庆中
(1)
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出版日期
2012
(2)
2014
(1)
2015
(1)
2020
(1)
2022
(1)
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文献类型
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1.
电子微组装可靠性设计.应用篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
周斌
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
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内容简介
著者简介
2.
电子微组装可靠性设计.基础篇
订购中
著者:
何小琦
恩云飞
宋芳芳
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2020
文献类型:
图书 , 索书号:
在馆信息
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内容简介
著者简介
3.
可靠性物理
订购中
著者:
恩云飞
谢少锋
何小琦
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2015
文献类型:
图书 , 索书号:
在馆信息
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内容简介
著者简介
4.
ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use
已借1次.
订购中
著者:
沃尔德曼
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2014
文献类型:
图书 , 索书号:
TN430.2/322
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内容简介
著者简介
5.
电子封装技术与可靠性
已借6次.
订购中
著者:
阿德比利
派克
出版社:
化学工业出版社
出版日期: 2012
文献类型:
图书 , 索书号:
TN405.94/722
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试读信息
内容简介
著者简介
6.
MEMS可靠性
订购中
著者:
哈策尔
席尔瓦
谢伊
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2012
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/682
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