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于秀山
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于秀山
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出版日期
2003
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1.
软件测评典型案例剖析
已借1次.
订购中
著者:
于秀山
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2022
文献类型:
图书 , 索书号:
TP311.55/122
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内容简介
著者简介
2.
C/C++程序缺陷与优化
已借1次.
订购中
著者:
于秀山
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2014
文献类型:
图书 , 索书号:
TP312C/122
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内容简介
著者简介
3.
程序设计缺陷分析与实践
订购中
著者:
尹浩
于秀山
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2011
文献类型:
图书 , 索书号:
TP311.1/173
在馆信息
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试读信息
内容简介
著者简介
4.
软件自动化测试：引入、管理与实施
订购中
著者:
Elfriede Dustin
出版社:
电子工业出版社
出版日期: 2003
文献类型:
图书 , 索书号:
TP311.56/000
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